貨源介紹
超聲相控陣探頭是一種先進(jìn)的無(wú)損檢測(cè)工具，能夠通過(guò)電子控制實(shí)現(xiàn)多種掃描模式，從而適應(yīng)不同的檢測(cè)需求。以下是超聲相控陣探頭能夠?qū)崿F(xiàn)的主要掃描模式：
1. 扇形掃描（S掃描）
扇形掃描是超聲相控陣探頭最常用的掃描模式之一。在這種模式下，探頭通過(guò)改變各陣元的激發(fā)延遲，使聲束在設(shè)定的深度上按一定角度范圍進(jìn)行偏轉(zhuǎn)，形成扇形掃查區(qū)域。這種掃描方式適用于檢測(cè)焊縫、管道等結(jié)構(gòu)中的缺陷，能夠快速覆蓋較大區(qū)域，并且可以靈活調(diào)整掃描角度。
2. 線性?huà)呙瑁娮訏呙瑁?br />線性?huà)呙枋橇硪环N常見(jiàn)的掃描模式。探頭的陣元被分成若干小組，通過(guò)延遲器依次激發(fā)各小組陣元，使聲束沿探頭長(zhǎng)度方向進(jìn)行掃查。這種模式適用于檢測(cè)工件的表面或近表面缺陷，能夠提供高分辨率的成像結(jié)果。
3. 動(dòng)態(tài)深度掃描（動(dòng)態(tài)深度聚焦）
動(dòng)態(tài)深度掃描允許探頭在不同深度上進(jìn)行聚焦，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)工件內(nèi)部缺陷的全面檢測(cè)。這種模式分為發(fā)射動(dòng)態(tài)深度聚焦和接收動(dòng)態(tài)深度聚焦。發(fā)射動(dòng)態(tài)深度聚焦通過(guò)改變激發(fā)延遲使聲束焦點(diǎn)在深度方向上移動(dòng)；接收動(dòng)態(tài)深度聚焦則在接收信號(hào)時(shí)對(duì)不同深度的回波進(jìn)行重新聚焦。
4. 光柵掃描（X-Y掃描）
光柵掃描模式結(jié)合了機(jī)械移動(dòng)和電子掃描。探頭在被測(cè)樣件上沿一個(gè)軸進(jìn)行物理移動(dòng)，同時(shí)在另一個(gè)軸的方向上進(jìn)行電子掃查。這種模式適用于復(fù)雜形狀工件的全面檢測(cè)，能夠提供詳細(xì)的二維或三維成像。
5. 靜態(tài)掃描
靜態(tài)掃描模式下，探頭固定在一個(gè)位置，通過(guò)改變聲束的偏轉(zhuǎn)角度和聚焦深度，對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。這種模式適用于對(duì)特定區(qū)域進(jìn)行詳細(xì)檢測(cè)，尤其是在需要高精度定位缺陷時(shí)。
6. B掃描顯示
B掃描顯示的是通過(guò)被測(cè)樣件的一個(gè)垂直切片的橫截面輪廓。這種模式要求探頭沿被測(cè)樣件的選定軸進(jìn)行機(jī)械或電子掃描，能夠直觀地顯示缺陷相對(duì)于其線性位置的深度。
7. C掃描顯示
C掃描顯示的是工件表面或某一特定深度的二維平面視圖。這種模式通過(guò)在工件表面進(jìn)行光柵掃描，生成缺陷的平面分布圖，適用于檢測(cè)大面積區(qū)域。
8. D掃描顯示
D掃描顯示的是工件內(nèi)部某一特定深度的三維視圖。這種模式結(jié)合了動(dòng)態(tài)深度掃描和光柵掃描，能夠提供缺陷的三維位置和尺寸信息。
9. S掃描顯示
S掃描顯示的是從一系列A掃描中導(dǎo)出的二維橫截面視圖，這些A掃描已相對(duì)于時(shí)間延遲和折射角進(jìn)行了繪制。這種模式適用于生成近似錐形的橫截面圖像，能夠直觀地顯示缺陷的位置和形狀。
10. TFM掃描（全聚焦方法）
TFM掃描是一種先進(jìn)的成像技術(shù)，通過(guò)計(jì)算所有可能的聚焦法則，生成工件內(nèi)部的高分辨率三維圖像。這種模式適用于復(fù)雜幾何形狀工件的檢測(cè)，能夠提供更準(zhǔn)確的缺陷定位和尺寸測(cè)量。
通過(guò)這些多樣化的掃描模式，超聲相控陣探頭能夠滿(mǎn)足不同工業(yè)領(lǐng)域和檢測(cè)場(chǎng)景的需求，提供高效、準(zhǔn)確的無(wú)損檢測(cè)解決方案。
![[!--sitename--]](/e/data/images/notimg.gif)
